DOI 10.31554/978-5-7925-0655-8-2023-233-237
ИЗМЕРЕНИЕ ПОЛНОГО КОЭФФИЦИЕНТА ВТОРИЧНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ЭМИССИИ В ЛИНЕЙНОМ СИМУЛЯТОРЕ ПЛАЗМЫ BPD-PSI
Сергеев Н. С.1, Сорокин И. А.1, 2
1 Национальный исследовательский ядерный институт «МИФИ» (НИЯУ МИФИ)
115409, Москва, Каширское шоссе, 31, Россия
2 Фрязинский филиал ФГБУ науки Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН 141190, Фрязино, Проезд Введенского, 1, Россия
E-mail: nickbebeskis@gmail.com
Представлена методика по in-vacuo измерению полного коэффициента вторичной электронной эмиссии (ВЭЭ) поверхности, подвергнутой плазменному облучению в линейной установке. В данной работе независимый узел электронной пушки служит как источник первичных электронов, необходимых для генерации пучково-плазменного разряда, так и в качестве источника диагностического электронного пучка, необходимого для изучения эмиссионных свойств исследуемой поверхности. С целью апробации описанной методики измерения, выполнена серия экспериментов по исследованию ВЭЭ чистых материалов. Полученные результаты сравниваются с литературными данными. Дополнительно исследовано изменение ВЭЭ вольфрамовой поверхности, подвергнутой высокотемпературному отжигу и облучению гелиевой плазмой.
